DIAGNOSTICS POUR FAISCEAUX D'ELECTRONS A FORTE BRILLANCE ET LEURS APPLICATIONS A LA DYNAMIQUE DE FAISCEAU DANS UN LASER A ELECTRONS LIBRES SUPRACONDUCTEUR AVEC SYSTEME DE RECUPERATION D'ENERGIE
Author | : PHILIPPE.. PIOT |
Publisher | : |
Total Pages | : 185 |
Release | : 1999 |
ISBN-10 | : OCLC:490690175 |
ISBN-13 | : |
Rating | : 4/5 (75 Downloads) |
Download or read book DIAGNOSTICS POUR FAISCEAUX D'ELECTRONS A FORTE BRILLANCE ET LEURS APPLICATIONS A LA DYNAMIQUE DE FAISCEAU DANS UN LASER A ELECTRONS LIBRES SUPRACONDUCTEUR AVEC SYSTEME DE RECUPERATION D'ENERGIE written by PHILIPPE.. PIOT and published by . This book was released on 1999 with total page 185 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UN LASER A ELECTRONS LIBRES INFRAROUGE (IRFEL) UTILISANT UN ACCELERATEUR SUPRACONDUCTEUR AVEC SYSTEME DE RECUPERATION D'ENERGIE A ETE CONSTRUIT ET RECEMMENT MIS EN ROUTE A THOMAS JEFFERSON NATIONAL ACCELERATOR FACILITY. LE SYSTEME SE COMPOSE PRINCIPALEMENT D'UN INJECTEUR, DONT LA SOURCE D'ELECTRONS EST BASEE SUR L'EFFET PHOTOELECTRIQUE. CETTE SOURCE PEUT PRODUIRE DES PAQUETS D'ELECTRON FORTEMENT CHARGES (60 PC) ULTRA-COURT (1 PS), AYANT UNE ENERGIE DE L'ORDRE DE 10 MEV. CES ELECTRONS SONT ENSUITE INJECTES DANS UN ACCELERATEUR LINEAIRE OU ILS SONT ACCELERES JUSQU'A UNE ENERGIE POUVANT ATTEINDRE 48 MEV. LE SYSTEME DE PRODUCTION DE LUMIERE SE COMPOSE D'UN ONDULEUR PLAN DONT L'EMISSION SPONTANEE EST AMPLIFIEE GRACE A UNE CAVITE OPTIQUE RESONNANTE. LE PRESENT RAPPORT DECRIT LES DIAGNOSTICS QUI ONT ETE DEVELOPPES AFIN DE CARACTERISER LES ESPACES DE PHASE TRANSVERSAUX ET LONGITUDINAL DU FAISCEAU D'ELECTRON DE L'ACCELERATEUR. NOUS DECRIVONS AUSSI LES APPLICATIONS DE CES DIAGNOSTICS A QUELQUES PROBLEMES DE DYNAMIQUE DE FAISCEAU. QUAND CELA FUT POSSIBLE NOUS AVONS TENTE DE COMPARER LES RESULTATS DE NOS MESURES AVEC DES SIMULATIONS NUMERIQUES.