Download or read book Fiabilité et bruit basse fréquence de transistors bipolaires à hétérojonction SiGe :C 250 GHz dédiés aux applications ondes millimétriques written by Malick Diop and published by . This book was released on 2009 with total page 192 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail de thèse portait sur l’étude de la fiabilité et du bruit basse fréquence de TBHs SiGe :C de la filière BiCMOS9MW dédiés aux applications ondes millimétriques. Ainsi, les 3 modes de polarisation en inverse, en direct et en « mixed-mode » ont été bien caractérisés et la dégradation associée, investiguée en détails en utilisant une approche originale couplant bruit et fiabilité et des outils puissants tels que la simulation TCAD et la modélisation HICUM. Ensuite, l’extraction de facteurs d’accélération de la dégradation du courant de base en fonction des paramètres de la contrainte nous a permis de proposer des modèles empiriques de durées de vies, pour tous les modes de défaillance. Enfin, l’introduction de la fiabilité au niveau « design » a permis de simuler pour la première fois la dégradation du TBH de l’amplificateur en puissance à 77GHz.