Download or read book Etude de la fiabilité porteurs chauds et des performances des technologies CMOS 0.13 μm-2nm written by Thierry Di Gilio and published by . This book was released on 2006 with total page 227 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ces travaux sont consacrés à l'étude de la dégradation des transistors MOSFETs de la génération 130nm-2nm, soumis aux injections de porteurs énergétiques générés par les champs électriques élevés. Les méthodes de vieillissement et de caractérisation sont adaptées pour cette technologie. Une étude comparative des mécanismes de dégradations mis en jeu est ensuite réalisée sur des technologies antérieures afin de mettre en évidence l'évolution de ces mécanismes. Ces résultats sont utilisés pour l'évaluation de la durée de vie des dispositifs dans leur fonctionnement normal. Nous adaptons ces techniques d'extrapolation aux modes de défaillances relevés