Étude et caractérisation de la fiabilité de cellules mémoire non volatiles pour des technologies CMOS et BICMOS avancées

Étude et caractérisation de la fiabilité de cellules mémoire non volatiles pour des technologies CMOS et BICMOS avancées
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Book Synopsis Étude et caractérisation de la fiabilité de cellules mémoire non volatiles pour des technologies CMOS et BICMOS avancées by : Pascal Mora

Download or read book Étude et caractérisation de la fiabilité de cellules mémoire non volatiles pour des technologies CMOS et BICMOS avancées written by Pascal Mora and published by . This book was released on 2007 with total page 227 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Aujourd'hui les solutions mémoire programmables de type Flash compatibles CMOS sont très demandées. Cependant, leur intégration dans les technologies logiques se heurte à des barrières physiques liées au caractère non volatile de la structure. En effet, certaines étapes du procédé de fabrication ne sont pas adaptées à ce type de fonctionnement et induisent des problèmes de fiabilité. La thèse s'inscrit dans ce contexte avec trois grands axes de travail qui sont l'étude des mécanismes de défaillance, l'évaluation de I'impact des procédés et de l'architecture des cellules sur la fiabilité ainsi que l'optimisation des structures de test et méthodes d'analyse. Une attention particulière est portée sur l'aspect rétention de données au travers d'une étude approfondie de la perte de charge rapide qui est un point critique de la fiabilité des mémoires embarquées. Les solutions technologiques proposées permettent de repousser les limites de l'intégration de ce type de mémoires


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